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我国科学家研发全球首颗二维-硅基混合架构闪存芯片

更新时间:2025-10-09     来源:科技日报     阅读:840 次

大数据与人工智能时代对数据存取性能提出极致要求,而目前速度最快的存储器为易失性存储器,速度为1-30纳秒,断电后数据会丢失。传统闪存不会轻易丢失数据,但工作效率落后于芯片算力10万倍以上。记者从复旦大学获悉,该校集成芯片与系统全国重点实验室、集成电路与微纳电子创新学院周鹏-刘春森团队率先研发出全球首颗二维-硅基混合架构闪存芯片,解决了存储速率上的技术难题。相关研究成果于10月8日发表在学术期刊《自然》上。

这是复旦大学继“破晓(PoX)”皮秒闪存器件问世后,在二维电子器件工程化道路上再获里程碑式突破。今年4月,周鹏-刘春森团队于《自然》期刊提出“破晓”二维闪存原型器件,实现了400皮秒超高速非易失存储,这是迄今最快的半导体电荷存储技术,为打破算力发展困境提供了底层原理支撑。研究团队认为,若要加快新技术孵化,就要将二维超快闪存器件充分融入互补金属氧化物半导体(CMOS)传统半导体生产线。

 

封装后的二维-硅基混合架构闪存芯片(带PCB板)。复旦大学供图

然而,CMOS电路表面有众多元件,如同一个微缩“城市”,既有高楼也有平地;而二维半导体材料厚度仅1到3个原子,如“蝉翼”般纤薄脆弱,若直接将其铺在CMOS电路上,材料很容易破裂。如何将二维材料与CMOS电路集成且不破坏其性能,是团队需要攻克的核心难题。

“我们没必要去改变CMOS,而需要去适应它。”复旦大学集成电路与微纳电子创新学院副院长周鹏介绍,团队从具有一定柔性特点的二维材料入手,通过模块化集成方案,先将二维存储电路与成熟CMOS电路分离制造,再通过微米尺度的高密度单片互连技术实现完整集成,使芯片集成良率超过94%。

这一成果将二维超快闪存与成熟CMOS的工艺深度融合,攻克了二维信息器件工程化的关键难题,率先实现全球首颗二维-硅基混合架构闪存芯片的研发。产业界相关人士认为,这种芯片可突破闪存本身在速度、功耗、集成度上的平衡限制,未来或可在3D应用层面带来更大市场机会。

      研究团队表示,下一步计划建立实验基地,与相关机构合作,建立自主主导的工程化项目,用3-5年时间将项目集成到兆量级水平。

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